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主な2"シリコンの薄片の標準的な<10 μm最高Capabilities<5um

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中国 Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd. 認証
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主な2"シリコンの薄片の標準的な<10 μm最高Capabilities<5um

主な2&quot;シリコンの薄片の標準的な&lt;10 μm最高Capabilities&lt;5um
主な2&quot;シリコンの薄片の標準的な&lt;10 μm最高Capabilities&lt;5um

大画像 :  主な2"シリコンの薄片の標準的な<10 μm最高Capabilities<5um

商品の詳細:
起源の場所: 蘇州中国
ブランド名: GaNova
証明: UKAS/ISO9001:2015
モデル番号: JDCD06-001-002
お支払配送条件:
最小注文数量: 1
パッケージの詳細: クラス10000のクリーンルーム環境での真空パック、25枚入りカセットまたは枚葉容器。
受渡し時間: 3-4 週日
支払条件: T/T
供給の能力: 50000pcs/month

主な2"シリコンの薄片の標準的な<10 μm最高Capabilities<5um

説明
直径: 2" 等級:
成長方法: CZ 抵抗: 0.001-100オームcm
終わる表面: 、P/P、E/E、G/G P/E TTV (μm): 標準的な<10μm、最高Capabilities<5μm
弓/ゆがみ: 標準的な<40μm、最高Capabilities<20μm 粒子: <10>
ハイライト:

2"シリコンの薄片

,

CZ siのウエファー

,

UKASのシリコンの薄片

主な2"シリコンの薄片TTV (μm)標準的な <10>m、最高のCapabilitiesm<5>

2インチのシリコンの薄片MEMS装置、集積回路、分離した装置のための熱心な基質


概観

2別の抵抗のSiの機械化の性能の結果はダイス沈降のマイクロ電気排出の機械化の技術を使用して排出エネルギー変数を変えている間論議される。さらに、Siを機械で造るための小説によって熱助けられるマイクロ電気排出機械技術は含まれる伝導性の層なしで行われる。

指定

シリコンの薄片

直径

2"/3"/4"/5"/6"/8"/12"
等級
成長方法 CZ
オリエンテーション <1-0-0><1-1-1>、<1-1-0>
タイプ/添加物 Pのタイプ/ほう素、Nのタイプ/Phos、N Type/As、N Type/Sb
厚さ(μm) 279/380/525/625/675/725/775
厚さの許容 標準的な± 25μmのCapabilit最高の/iesの± 5μm
抵抗 0.001-100オームcm
終わる表面 、P/P、E/E、G/G P/E
TTV (μm) 標準 <10>
弓/ゆがみ 標準 <40>
粒子 <10>

私達について

私達は電子工学、光学、opto電子工学および他の多くの分野で広く利用されたウエファー、基質およびカスタマイズされた光学ガラスparts.componentsにいろいろな材料を処理することを専門にする。私達はまた多くの国内を密接に使用して、海外大学、研究所および会社はR & Dのプロジェクトに、カスタマイズされた製品とサービスを提供する。それは私達のよい評判によって私達のすべての顧客との協同のよい関係の維持へ私達の視野である。

FAQ

Q:あなた商事会社または製造業者はであるか。
私達は工場である。
Q:どの位あなたの受渡し時間はあるか。
通常それは商品が在庫にあれば3-5日である。
またはそれは量に従って商品が在庫になければ7-10日、それあるである。
Q:サンプルを提供するか。それまたは余分は自由にあるか。
はい、私達は自由電荷のためのサンプルを提供できたが、貨物の費用を支払わない。
Q:あなたの支払い条件は何であるか。
支払の <> 支払>=5000USD、先立って80% T/T、郵送物の前のバランス。

連絡先の詳細
Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd.

コンタクトパーソン: Xiwen Bai (Ciel)

電話番号: +8613372109561

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